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金属镀层膜厚仪
金属镀层膜厚仪是集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行精准检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005 2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005 3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
金属镀层膜厚仪测量标准：
1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08 Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
应用行业
1、电子半导体行业接插件和触点的厚度测量
2、印刷线路板行业功能镀层厚度测量
3、首饰手表行业镀层厚度测量
4、五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量
https://www.chem17.com/st391415/product_37653108.html
http://www.yiqi1978.com/ParentList-2422994.html
金属镀层膜厚仪